分析测试技术网络学习平台
分析测试协会
核学会
广东省分析测试协会第五届秘书处办公地点设立在广东省科学院测试分析研究所（中国广州分析测试中心）内，共有12名兼职人员，分别来自广东省分析测试领域具有一定影响力的专家学者。第五届秘书处任期5年（2021-2025年），聘广东省科学院测试分析研究所（中国广州分析测试中心）新技术实验室主任郭鹏然为秘书长，广州分析测试中心科力技术开发公司副总经理杨熙为常务副秘书长，仪学国投（广州）科技有限公司执行董事兼总经理蒋超、广东工业大学实验室与设备处处长许燕斌，中科检测技术服务（广州）股份有限公司副总经理杨冠东、黄埔海关技术中心王斌、深圳市疾病预防控制中心刘源、广东工业大学测试中心 黄淑瑶为副秘书长， 广东省科学院测试分析研究所（中国广州分析测试中心）刘宁和潘佳钏为协会秘书，广东省科学院测试分析研究所（中国广州分析测试中心）周培才为团标委秘书。
表面分析专业委员会举办"飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用"讲座
2018/5/10
2018年4月19日15：00–17：00在中山大学测试大楼420讲学厅举办了表面分析技术讲座——飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用。德国IONTOF公司中国代表处（北京艾飞拓科技有限公司）总经理高聚宁和全球销售总监Dr. Sven Kayser作为此次讲座的主讲人，表面分析专业委员会秘书长谢方艳博士主持，中山大学及其它高校的老师学生（50余人）共同聆听了这次讲座。
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。它可以获得关于表面、薄膜以及样品界面的元素和分子的详细信息，并且给出完整的三维分析。这种技术的应用范围十分广泛，包括半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等。本次讲座中两位专家为我们带来了飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）的最新进展，重点报告了TOF-SIMS在材料分析中的最新应用成果。
IONTOF公司中国代表处高聚宁总经理详细介绍了TOF-SIMS的原理特点以及最新进展，结合在材料表面的分析应用；Dr. Sven Kayser通过若干实例给老师和同学们分享了现在TOF-SIMS在半导体、高分子材料、油漆、镀层、玻璃、纸、金属、陶瓷、生物材料、药物以及有机组织等许多方面的最新创新应用。
报告结束后，同学和老师们的热情不减，现场就TOF-SIMS在各个学科领域的应用提出了问题，高聚宁总经理和Dr.Sven Kayser以自己丰富的经验进行了全面细致的解答，并与提问者探讨交流。
最后讲座在热烈的掌声中结束，老师同学们都收获颇丰。本次讲座为老师同学们提供了一个直接与TOF-SIMS领域国内外专家面对面交流学习的机会，加深了大家对表面分析技术TOF-SIMS的了解与应用。
