X射线三维显微成像技术及其应用交流会邀请函
2016/3/21
在过去的几十年中，显微成像技术取得了令人瞩目的发展，不断涌现出新的显微成像技术和仪器设备，如各种先进的光学显微镜、SEM/TEM、AFM/STM等，将其成像分辨率不断推向新的极限，从微米到纳米、直至原子量级水平。然而，所有这些显微成像技术都存在一个共同的瓶颈，即只能对样品的表面进行成像观测。X射线三维显微成像技术成功地弥补了这一缺陷，提供了一种无损观察样品内部微观结构和进行三维体特征表征的新方法。
为分享和交流最新的材料表征技术和解决方案，中国广州分析测试中心特邀请中组部“千人计划”、天津大学特聘教授、天津三英精密仪器有限公司董事长须颖博士做“X射线三维显微成像技术及其应用”技术报告，介绍一种新型的X射线三维显微成像检测技术及其产品。该技术实现了对样品内部微观结构进行高分辨无损成像检测，可广泛应用于科研和工业检测领域，包括：材料科学、先进制造、石油地质和生物医学等领域。
交流会将进行成像关键技术的介绍和应用实例的展示，并可进行仪器现场演示。
欢迎各高校、科研院所、企业管理和技术人员参加！
有意参加请于3月29日将参会回执通过邮件（px@fenxi.com.cn）或者传真（020-87684952）返回。联系电话020-37656885-275。
报告题目：X射线三维显微成像技术及其应用
时间：2016年3月31日（周四）下午2:30-5:30
地点：广州市越秀区先烈中路100号34栋中广测七楼会议室
报告人：须颖 博士
须颖 博士——
天津三英精密仪器有限公司董事长。毕业于University of Warwick（英国），2012年入选中组部“千人计划”创业人才，现任天津大学、中国石油大学、首都师范大学特聘教授。拥有多年从事显微CT和纳米CT技术与设备的研发和产业化经验，精通纳米和亚纳米范围的精密测量技术和位移/定位控制技术，及利用这些技术解决超精密运动控制和动态分析问题的丰富经验。熟悉现代扫描显微技术（原子力显微镜），多年从事超精密半导体设备的设计与研制工作。
中国广州分析测试中心
2016年3月21日
